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  • 白光幹涉薄膜厚度測試儀
    白光幹涉薄膜厚度測試儀

    更新時間:2023-06-29

    型號:

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    白光幹涉薄膜厚度測試儀,TF200根據反射回來的幹涉光,用反複校準的算法快速反演計算出薄膜的厚度。測量範圍1nm-3mm,可同時完成多層膜厚的測試。對於100nm以上的薄膜,還可以測量n和k值。
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